Pусский  |
I.C.T-Q518D
I.C.T
In-Circuit Test ICT Equipment
| Количество: | |
|---|---|
Оснащен технологией EC Jet Test.
Конструкция карты переключения CMOS + воспроизведения
Настоящая технология широкополосного тестирования
Гуманизированный интерфейс Win7, простота в эксплуатации и простота в использовании.
Мощный вид доски
Технология пятипроводного тестирования, можно протестировать до четырех клеммных компонентов
Отладка программы автоматического тестирования ATPD
Улучшайте отчеты статистического анализа и эффективно контролируйте качество продукции
| Модель | I.C.T-Q518D |
| PCB Размер | 500 мм х 380 мм (СТАНДАРТ) |
| Тестовые точки | 256 баллов стандартно (1024 балла опционально) |
| Переключить карту | 128/горшок |
| Изолированные точки | 10/корзина |
| Скорость теста | 0,5 секунды/1024 пункта (открытие/короткая позиция) 2 мс ~ 40 мс/шаг (компонент) |
| Тестовый полигон | Сопротивление 0,1 Ом ~ 40 МОм. Точность: 0,05 Ом ~ 100 МОм (2-проводная схема) ± 1–5 % (четырехпроводная схема) 0,05 Ом. Емкость 1пф ~ 40MF, точность ± 2%-5%. Индуктивность 1ух ~ 50ч, точность 2% - 5%. Диоды 0,1 ~ 6 В, точность ± 1–3%. Стабилизированный диод напряжения 0,1 ~ 15 В, точность ± 1–3%. Измерение напряжения насыщения VCE на трех выводах значения β транзистора. Трехвыводная проверка полевого транзистора ВДС, КД, РД (вкл.). Оптический соединитель и реле с четырьмя клеммами для проверки напряжения проводимости или сопротивления. |
| Источник питания | Переменный ток: 100~240,50/60Гц,3кВт |
| Измерение (мм) | 830*830*1600 |
| Масса | Приблизительно: 170 кг |
* Данные получены при температуре окружающей среды 25 ℃ и влажности 60 %.
* I.C.T продолжает работать над качеством и производительностью, спецификации и внешнего вида могут быть обновлены без особого уведомления.
Оснащен технологией EC Jet Test.
Конструкция карты переключения CMOS + воспроизведения
Настоящая технология широкополосного тестирования
Гуманизированный интерфейс Win7, простота в эксплуатации и простота в использовании.
Мощный вид доски
Технология пятипроводного тестирования, можно протестировать до четырех клеммных компонентов
Отладка программы автоматического тестирования ATPD
Улучшайте отчеты статистического анализа и эффективно контролируйте качество продукции
| Модель | I.C.T-Q518D |
| PCB Размер | 500 мм х 380 мм (СТАНДАРТ) |
| Тестовые точки | 256 баллов стандартно (1024 балла опционально) |
| Переключить карту | 128/горшок |
| Изолированные точки | 10/корзина |
| Скорость теста | 0,5 секунды/1024 пункта (открытие/короткая позиция) 2 мс ~ 40 мс/шаг (компонент) |
| Тестовый полигон | Сопротивление 0,1 Ом ~ 40 МОм. Точность: 0,05 Ом ~ 100 МОм (2-проводная схема) ± 1–5 % (четырехпроводная схема) 0,05 Ом. Емкость 1пф ~ 40MF, точность ± 2%-5%. Индуктивность 1ух ~ 50ч, точность 2% - 5%. Диоды 0,1 ~ 6 В, точность ± 1–3%. Стабилизированный диод напряжения 0,1 ~ 15 В, точность ± 1–3%. Измерение напряжения насыщения VCE на трех выводах значения β транзистора. Трехвыводная проверка полевого транзистора ВДС, КД, РД (вкл.). Оптический соединитель и реле с четырьмя клеммами для проверки напряжения проводимости или сопротивления. |
| Источник питания | Переменный ток: 100~240,50/60Гц,3кВт |
| Измерение (мм) | 830*830*1600 |
| Масса | Приблизительно: 170 кг |
* Данные получены при температуре окружающей среды 25 ℃ и влажности 60 %.
* I.C.T продолжает работать над качеством и производительностью, спецификации и внешнего вида могут быть обновлены без особого уведомления.
