Скрытые дефекты паяных соединений являются основной причиной сбоев в работе высоконадежной электроники. Традиционный AOI, ICT и ручной контроль не могут обнаружить пустоты, перемычки, высокое давление или плохое смачивание. Только рентгеновский контроль высокого разрешения, включая 2D, 2,5D и 3D КТ, может надежно выявить эти критические проблемы. Системы ICT X-7100, X-7900 и X-9200 обеспечивают субмикронное разрешение, интеллектуальное программное обеспечение и глобальную поддержку, помогая производителям в автомобильной, медицинской, аэрокосмической отраслях и секторах 5G снижать количество сбоев, повышать надежность и быстро достигать окупаемости инвестиций.