I.C.T X-7900 | 2D рентгеновский контроль печатных плат
AXI X-7900
Система рентгеновского контроля Semicon
Электронное оборудование для тестирования полупроводников X-7900 можно использовать для обнаружения полупроводниковых полупроводников интегральных схем, таких как BGA, IGBT, флип-чип и сварка компонентов PCBA, высокоточное тестирование в LED, фотоэлектрическая и другие отрасли промышленности;широко используется в областях промышленного производства, таких как автозапчасти, испытания литейного производства, испытания качества сварки сосудов под давлением и труб, а также анализ новых материалов;может обнаруживать дефекты в различных типах батарей, таких как силовые батареи, баллоны, гибкая упаковка, квадратные корпуса и ламинаты и т. д.
Функции из Система рентгеновского контроля Semicon：
1. Сцена может перемещаться по направлениям X и Y, детектор и световод могут перемещаться по направлению Z, а скорость можно разделить на медленную, среднюю и быструю.
2. Эффективный диапазон обнаружения больше, а увеличение и эффективность обнаружения продукта улучшаются.
3. Легко определить дефекты наклона стороны изделия и обнаружить их без мертвого угла.
4. Принять лучший в мире японский источник рентгеновского излучения Hamamatsu.
5. Легко определить изгиб и разрыв золотых проводов в полупроводниковой упаковке.
6. Редактируемая программа обнаружения для автоматического обнаружения ЧПУ.
7. Он подходит для массового обнаружения, повышает эффективность обнаружения и автоматически оценивает продукты NG.
8. Сверхбольшое окно автоматической навигации. Сцену можно переместить в указанное положение щелчком мыши.
9. Операция очень удобна, дефект изделия можно быстро обнаружить, что повышает эффективность обнаружения.
10. Высокая безопасность, сертификат CE ЕС, международная система управления качеством ISO и сертификат AERB для рентгеновских лучей.
Джойстик управления
Программирование управления
Опционально: цифровой плоский детектор HD X-RAY
Рентгеновская трубка
Принцип работы
Система рентгеновского контроля Semicon
Компьютер контролирует интенсивность рентгеновской трубки, излучаемой рентгеновским лучом, проникает в испытуемый объект, достигает детектора, а карта получения изображения преобразует сигнал и отправляет его обратно на компьютер.
Приложение системы рентгеновского контроля Semicon:
SMT, BGA, CSP, Flip Chip, корпус MINI LED, сборка PCBA, полупроводниковая упаковка, литиевая батарея, электронные компоненты, автомобильные детали, фотогальванические элементы, алюминиевый кристалл -литье, литье пластмасс, керамика, другие специальные отрасли.
Полупроводниковая упаковка
PCBA
Электронный жгут
Пакет МИНИ LED
Кабель
Датчик автомобиля
Литиевая батарейка
Питание Батарея
Спецификация системы рентгеновского контроля Semicon:
| Элемент | Модель | I.C.T Х-7900 |
| Рентгеновская трубка | Тип | Закрытый микрофокусный источник рентгеновского излучения с отражающей мишенью |
| Напряжение | 130кВ |
| Электрический ток | 300мкА |
| Размер фокусного пятна | 3 мкм |
| Максимальная входная мощность | 39 Вт |
| Угол рентгеновского луча (конус) | 105 градусов |
| Расстояние от фокуса до объекта | 10 мм |
| Плоская панель | Область визуализации | 160мм*160мм |
| Размер светочувствительного блока | 85 мкм |
| Разрешение | 1644*1648 пикселей |
| Угол наклона детектора | 0-60° |
| Частота кадров изображения (1×1) | 30 кадров в секунду |
| Платформа | Макс.Размер загрузки | 540мм*540мм |
| Макс.Зона проверки | 510мм*510мм |
| Макс.Вес загрузки | 10 кг |
| Вращение платформы | Вращение платформы на 360° (опция) |
| Машина | Внутренний свинцовый лист | Свинцовая пластина толщиной 5 мм (изолирующая радиация) |
| Измерение | 1110 мм (Д) * 1350 мм (Ш) * 2000 мм (В) |
| Масса | 1050 кг |
| Компьютер | 24-дюймовый широкоэкранный ЖК-монитор/процессор I5/4G память/жесткий диск 250 ГБ |
| Власть | 110/220 В переменного тока, 10 А, 1300 Вт |
* I.C.T продолжает работать над качеством и производительностью, характеристики и внешний вид могут обновляться без особого уведомления.
Pусский
